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解決方案

LPDDR5 內(nèi)存接口的高效驗(yàn)證和調(diào)試

LPDDR5 內(nèi)存接口的高效驗(yàn)證和調(diào)試

泰克LPDDR5發(fā)射機(jī)解決方案是一種自動(dòng)化的系統(tǒng)級(jí)測(cè)試應(yīng)用,可讓您快速、有效和可靠地驗(yàn)證和調(diào)試 LPDDR5設(shè)計(jì),以滿足 JEDEC 定義的50多種電氣和時(shí)序測(cè)量要求。
DDR5 內(nèi)存接口的高效驗(yàn)證和調(diào)試

DDR5 內(nèi)存接口的高效驗(yàn)證和調(diào)試

泰克TekExpress DDR5發(fā)射機(jī)解決方案是一種自動(dòng)化的系統(tǒng)級(jí)測(cè)試應(yīng)用,可讓您快速、有效和可靠地驗(yàn)證和調(diào)試DDR5設(shè)計(jì),以滿足JEDEC定義的50多種電氣和時(shí)序測(cè)量要求。

EMMC NAND測(cè)試方案

因?yàn)锽F7264B是集邏輯分析儀與協(xié)議分析儀于一體的機(jī)器,所以BF7264B可以先用協(xié)議分析儀功能長(zhǎng)時(shí)間監(jiān)測(cè)采集數(shù)據(jù),從而發(fā)現(xiàn)數(shù)據(jù)錯(cuò)誤。然后再用邏輯分析儀功能的協(xié)議觸發(fā)去定位采集數(shù)據(jù)錯(cuò)誤的數(shù)字波形,最后確認(rèn)數(shù)據(jù)錯(cuò)誤的原因。

SD及SDIO測(cè)試方案

BF7264B 是集邏輯分析儀與協(xié)議分析儀于一體的機(jī)器,目前市場(chǎng)上邏輯分析儀和協(xié)議分析儀都是單獨(dú)的儀器。BF7264B 的協(xié)議分析儀模式是信號(hào)進(jìn)入儀器內(nèi)部后,信號(hào)就被儀器內(nèi)部的芯片直接進(jìn)行協(xié)議解析,將解析好的文本協(xié)議數(shù)據(jù)送出來顯示。

HDMI相關(guān)測(cè)試

高清晰度多媒體接口 (HDMI) 是用于提供高清體驗(yàn)的數(shù)字視頻接口。隨著 HDMI 標(biāo)準(zhǔn)的傳輸速度提高,由于信號(hào)質(zhì)量失真而引起的互操作性問題為 HDMI 接收設(shè)備和源設(shè)備帶來了新的技術(shù)要求和測(cè)試挑戰(zhàn)。
MIPI C-PHY發(fā)射機(jī)、接收機(jī)和協(xié)議解決方案

MIPI C-PHY發(fā)射機(jī)、接收機(jī)和協(xié)議解決方案

泰克C-PHY TX Essentials、C-PHYXpress、TMPC-CPHYVIEW和Moving Pixel C-PHY協(xié)議解決方案提供了完善的一站式C-PHY解決方案,用來根據(jù) MIPI標(biāo)準(zhǔn)合規(guī)性測(cè)試和表征發(fā)射機(jī)、接收機(jī)和協(xié)議測(cè)試要求。C-PHY TX Essentials解決方案為調(diào)試和表征C-PHY數(shù)據(jù)鏈路提供了簡(jiǎn)便的方式。C-PHY TX應(yīng)用允許根據(jù)MIPI C-PHY v1.0規(guī)范選擇電氣測(cè)量和定時(shí)測(cè)量。

M-PHY 發(fā)射機(jī)解決方案

The Tektronix M-PHY TX Essentials Test software runs on Tektronix real-time oscilloscopes that are based on Windows 7 computer operating systems.

TYPE C PD3.0數(shù)據(jù)測(cè)試分析方案

目前市場(chǎng)針對(duì) Type-C 接口中的 PD3.0 數(shù)據(jù)分析的低成本方案非常少,Acute 邏輯分析儀較先支持了 PD3.0 數(shù)據(jù)的測(cè)試分析。

汽車以太網(wǎng)測(cè)試

ADAS、智能安全系統(tǒng)和人機(jī)子系統(tǒng)生成在車內(nèi)傳輸?shù)拇罅繑?shù)據(jù)。 此外,提高汽車子系統(tǒng)間集成度的要求也推動(dòng)基礎(chǔ)架構(gòu)發(fā)生變化:從簡(jiǎn)單環(huán)形網(wǎng)絡(luò)變成更復(fù)雜的拓?fù)渚W(wǎng)絡(luò),包括連接各骨干網(wǎng)絡(luò)的網(wǎng)關(guān)。

LUCEO壓力眼測(cè)試方案

IEEE和OIF要求100G接口要在壓力條件下測(cè)試光接收器,VECP、J2、J9需要達(dá)到指標(biāo)。這需對(duì)數(shù)據(jù)信號(hào)的確定性抖動(dòng)DJ、隨機(jī)抖動(dòng)RJ和垂直眼圖閉合進(jìn)行完整校準(zhǔn)。LUCEO的壓力眼測(cè)試系統(tǒng)提供基于協(xié)會(huì)標(biāo)準(zhǔn)的完整校準(zhǔn)壓力參數(shù)設(shè)置。

半導(dǎo)體及材料測(cè)試

半導(dǎo)體材料的突破帶來了一場(chǎng)技術(shù)革命,引領(lǐng)了尖端新器件的研發(fā)。3DFlash存儲(chǔ)器、人工智能芯片、MEMS/sensor芯片、GaN/SiC功率半導(dǎo)體器件等前所未有的應(yīng)用推動(dòng)著半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)的發(fā)展。

數(shù)據(jù)采集及電源測(cè)試

數(shù)據(jù)采集(DAQ),是指從傳感器和其它待測(cè)設(shè)備等模擬和數(shù)字被測(cè)單元中自動(dòng)采集非電量或者電量信號(hào),送到上位機(jī)中進(jìn)行分析,處理。待機(jī)功耗指的是當(dāng)電子設(shè)備在其最低功率模式下運(yùn)行時(shí)所消耗的功率。

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